| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 在线询价 | 在线订购 |
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74ABTH182652APMG4 |
Texas Instruments | 64-LQFP | 询价QQ： |
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| 简述：IC 18BIT SCAN TEST DEV 64-LQFP 参考包装数量：160 参考包装形式：托盘 |
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| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 描述 | 部分参数 |
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| 74ABTH18502APMRG4 | Texas Instruments | 64-LQFP | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | 逻辑类型：扫描测试通用总线收发器 输入数：- 电路数：18 位 输出电流高，低：... | |
| 74ABTH18504APMRG4 | Texas Instruments | 64-LQFP | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | 逻辑类型：扫描测试通用总线收发器 输入数：- 电路数：20 位 输出电流高，低：... | |
| 74AC00MTC | Fairchild Semiconductor | 14-TSSOP（0.173"，4.40mm 宽） | 7040 | IC GATE NAND QUAD 2INPUT 14TSSOP | 逻辑类型：与非门 电路数：4 输入数：2 特点：- 电源电压：2 V ~ 6 V... |
| 74ABTH182646APMG4 | Texas Instruments | 64-LQFP | 0+160 | IC 18BIT SCAN TEST DEV 64-LQFP | 逻辑类型：扫描测试设备，带收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| 74ABTH182504APMG4 | Texas Instruments | 64-LQFP | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | 逻辑类型：扫描测试通用总线收发器 输入数：- 电路数：20 位 输出电流高，低：... | |
| 74ABTH182502APMG4 | Texas Instruments | 64-LQFP | 0+21920 | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | 逻辑类型：扫描测试通用总线收发器 输入数：- 电路数：18 位 输出电流高，低：... |
